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平臺(tái)式平片光譜測(cè)試儀
儀器特點(diǎn)：
平臺(tái)式平片光譜測(cè)試儀*的操作系統(tǒng)，20年+開發(fā)制造經(jīng)驗(yàn)，產(chǎn)品技術(shù)指標(biāo)，成就了全新—代平臺(tái)式平片光譜測(cè)試儀,不要任何 夾具.觸屏一鍵出圖.。主要適用于固體、玻璃樣品測(cè)試 ： 規(guī) 格 最 小 φ1.5mm -500*500mm固體 、 薄膜 、 透鏡、啤酒瓶、平板、手機(jī)攝像頭、建筑玻璃、觸屏行 業(yè)、紡織、珠寶鑒定、真空鍍膜等、單層、多層窗玻璃 構(gòu)件光學(xué)性能的測(cè)定，.開機(jī)自校；觸摸屏+PC端雙 模操 作端；軟件版本UV10.0
